产品描述：
Team Nanotec EL-HAR5 AFM probes是轻敲模式大长径比AFM探针。针尖表面涂层为导电的耐磨损的金属碳化物。表面光滑而且具有规则形状。
典型的应用：
● 台阶高度的测量；
● 电性测量；
● 纳米压痕等。
● 如针尖曲率半径有更大的选择范围，可选择HSC系列的产品。
● 所有悬臂都有铝涂层，没有涂层，或者特殊涂层。
● 所有探针在发运前都要通过SEM进行质量检查。（可以要求SEM照片）。
● 每个包装5根探针。
应用范围：
台阶高度的测量；电性测量；纳米压痕等。
技术数据：
Technical Data
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Value
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Range
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Force Constant
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40N/m
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-
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Resonance Frequency
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300 kHz
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-
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Length
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125µm
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±
15µm
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Width(rectangular part)
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35 µm
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±
3µm
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Thickness
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-
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-
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Shape / Cross-section
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Rectangular
/ Trapezoidal
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Number of Cantilevers
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1
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Tip Offset
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-
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Tip Style
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Tip Height
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>
9 µm
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Tip Radius
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~
50 nm
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Full cone angle
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<
10° over length of 2 µm
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Aspect Ratio
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>
5:1
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Spike Length
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>
2 µm
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Spike Tilt
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0
°
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Material
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Silicon
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Chip Size
(industry standard)
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3.4
mm×1.55 mm×0.32 mm
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Coating (optional)
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Aluminum
reflex ( ~ 30 nm thick, non-tip side )
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