产品描述：
NanoWorld Pointprobe S-MFMR AFM probes 是专为测量软磁性样品上的磁畴而设计的磁力探针。由于针尖上的软磁性涂层，使得其较易被硬磁样品磁化。
Pointprobe系列的所有探针均是采用高掺杂的单晶硅，从而消除静电产生。
化学惰性并且具有高的Q因子，从而获得高的灵敏度。针尖的形状是像金字塔的多边形，高度为10～15微米。
S-MFMR探针独特的性能：
1、软磁性涂层，矫顽力为0.75 Oe，剩磁为225 emu/cm3；
2、有效磁矩为标准探针MFMR的0.75倍；
3、包括涂层的针尖的曲率半径小于30nm；
4、磁性分辨率优于35nm；
涂层说明：
S-MFMR镀有一层薄的软磁涂层软磁涂层。该软磁涂层仅有0.75 Oe的矫顽力，以及225 emu/cm3的剩磁磁化(平面上的测量值)。
建议为增强信号强度，测量前先用强的永磁体磁化。
反射涂层是在悬臂的反射面上加上了一层约30nm厚的铝涂层，从而增强了激光束的反射率2.5倍。此外还可以防止悬臂的光干涉。
涂层产生的应力几乎为零，使得悬臂由于应力产生的弯曲角度小于2度。
应用范围：
适用于MFM磁力显微镜的应用，以及Agilent的MAC模式。
技术数据：
Technical Data |
Value |
Range |
Force Constant |
2.8N/m |
1.2
- 5.5 |
Resonance Frequency |
75 kHz |
60
- 90 |
Length |
225µm |
220
- 230 |
Width(rectangular part) |
28 µm |
22.5
- 32.5 |
Thickness |
3 µm |
2.5
- 3.5 |
Shape / Cross-section |
Rectangular / Trapezoidal |
Number of Cantilevers |
1 |
Tip Offset |
14
- 16 µm |
Tip Style |
Pyramidal |
Tip Height |
10-15
µm |
Tip Radius |
<30
nm |
Tip Aspect Ratio |
- |
Material |
Single
Crystal Silicon, Highly Doped |
Chip Size
(industry standard) |
|
Coating (optional) |
Soft
magnetic coating
Aluminum
reflex ( ~ 30 nm thick, non-tip side ) |
|
