产品描述：
NANOSENSORS AdvancedTEC CONT 探针是专为接触模式设计的。此款探针的四面体针尖是位于悬臂的末端，由于其独特的可视化针尖结构，可以精确地定位并使得 AdvancedTEC 是唯一的原子力显微镜扫描时能通过显微镜看到针尖作用于样品的位置（即针尖与样品接触点）。这种特性使得很容易将针尖定位在感兴趣的区域或必须可见的区域（如纳米操作）进行扫描。
由于AdvancedTEC系列的针尖有非常小的半锥角，使得其能在一个小范围内测量落差比较大的样品。
AdvancedTEC探针独特的性能：
● 可视化针尖
● 针尖长度15～20μm
● 针尖的曲率半径小于10nm
● 单晶硅材料
● 高掺杂材质使得悬臂防静电
● 化学惰性
● 高机械品质Q因子以及高灵敏度
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应用范围：
接触模式。
技术数据：
Technical Data
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Value
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Range
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Force Constant
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0.2N/m
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0.02
- 0.75
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Resonance Frequency
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15 kHz
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7
– 25
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Length
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450µm
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440
- 460
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Width(rectangular part)
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50 µm
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45
– 55
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Thickness
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2 µm
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1.0
- 3.0
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Shape / Cross-section
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Rectangular / Trapezoidal
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Number of Cantilevers
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1
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Tip Offset
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0
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Tip Style
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Pyramidal
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Tip Height
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15-20
µm
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Tip Radius
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<10
nm
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Tip Aspect Ratio
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-
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Material
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Single
Crystal Silicon, Highly Doped
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Chip Size
(industry standard)
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Coating (optional)
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without
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