产品描述：
PointProbe Plus (PPP)在PointProbe基础上再减少针尖的曲率半径，使得针尖曲率半径仅为7nm，增加了针尖的可用性和分辨率。
NANOSENSORS PPP-ZEILR探针是专为蔡司Veritekt或精工电子显微镜使用接触模式成像设计的。该探针相对于普通接触模式AFM探针力常数略微有些大。
该探针独特的功能：
● 保证针尖的曲率半径<10纳米
● 高掺杂材质使得悬臂防静电
● 高机械品质Q因子以及高灵敏度，
● Al反射涂层，增强激光反射光束强度约2.5倍；
反射涂层是在悬臂的反射面上加上了一层约30nm厚的铝涂层，从而增强了激光束的反射率2.5倍。此外还可以防止悬臂的光干涉。悬臂弯曲度小于2％。
应用范围：
蔡司Veritekt及精工专用接触模式AFM探针。
技术数据：
Technical Data
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Value
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Range
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Force Constant
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1.6N/m
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0.6
- 3.9
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Resonance Frequency
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27 kHz
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19
- 35
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Length
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450µm
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440
- 460
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Width(rectangular part)
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55 µm
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47.5
– 62.5
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Thickness
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4 µm
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3.0
- 5.0
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Shape / Cross-section
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Rectangular / Trapezoidal
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Number of Cantilevers
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1
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Tip Offset
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14
- 16 µm
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Tip Style
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Pyramidal
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Tip Height
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10-15
µm
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Tip Radius
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7
nm
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Tip Aspect Ratio
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-
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Material
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Single
Crystal Silicon, Highly Doped
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Chip Size
(industry standard)
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Coating (optional)
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Aluminum
reflex ( ~ 30 nm thick, non-tip side )
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