产品描述：
● NanoWorld Pointprobe ZEILR probes 是专为蔡司Veritekt或精工电子显微镜使用接触模式成像设计的。相比于Pointprobe contact mode probes,力常数稍微大一点。
● Pointprobe 系列的所有探针均是采用高掺杂的单晶硅，从而消除静电产生。化学惰性并且具有高的Q因子，从而获得高的灵敏度。针尖的形状是像金字塔的多边形，高度为10～15微米。针尖曲率半径小于8nm。
● 反射涂层是在悬臂的反射面上加上了一层约30nm厚的铝涂层，从而增强了激光束的反射率2.5倍。此外还可以防止悬臂的光干涉。
应用范围：
蔡司Veritekt及精工专用接触模式AFM探针。
技术数据：
Technical Data
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Value
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Range
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Force Constant
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1.6N/m
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1.0
- 2.6
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Resonance Frequency
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27 kHz
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23
- 31
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Length
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450µm
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445
- 455
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Width(rectangular part)
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55 µm
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50
- 60
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Thickness
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4 µm
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3.5
- 4.5
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Shape / Cross-section
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Rectangular / Trapezoidal
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Number of Cantilevers
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1
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Tip Offset
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14
- 16 µm
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Tip Style
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Pyramidal
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Tip Height
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10-15
µm
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Tip Radius
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8
nm
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Tip Aspect Ratio
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-
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Material
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Single
Crystal Silicon, Highly Doped
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Chip Size
(industry standard)
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Coating (optional)
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Aluminum
reflex ( ~ 30 nm thick, non-tip side )
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