产品描述：
● Team Nanotec HSC AFM probes是接触模式半球形针尖AFM探针。
● 针尖形状为半球形，为理想的材料表征(使用纳米压痕法）应用的探针。（用于诸如生物医用材料，聚合物...等）。
● 这些针尖都有金属碳化物涂层。
● 所有悬臂都有铝涂层，没有涂层，或者特殊涂层。
● 所有探针在发运前都要通过SEM进行质量检查。（可以要求SEM照片）。
● 每个包装5根探针。
应用范围：
材料表征，纳米压痕等
悬臂数据：
Technical Data
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Value
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Range
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Force Constant
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0.2N/m
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-
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Resonance Frequency
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15 kHz
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-
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Length
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450µm
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±
20µm
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Width(rectangular part)
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35 µm
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±
3µm
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Thickness
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-
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-
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Shape / Cross-section
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Rectangular
/ Trapezoidal
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Number of Cantilevers
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1
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Tip Offset
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-
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Tip Style
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Hemispherical
Cone Shaped
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Tip Height
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-
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Tip Radius
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20,
40, or 60 nm
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Full cone angle
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<
20°
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Material
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Metal Carbide
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Chip Size
(industry standard)
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3.4
mm×1.55 mm×0.32 mm
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Coating (optional)
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Aluminum
reflex ( ~ 30 nm thick, non-tip side )
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