产品描述：
Team Nanotec HR-SCC AFM probes 是专为接触模式高分辨设计的AFM探针。使用EBID技术将高分辨的固态碳锥针尖固定在硅底座以及硅悬臂上。此款探针能够对有比较大的高宽比的结构的样品进行高分辨率的扫描。
所有探针在发运前都要通过SEM进行质量检查。（可以要求SEM照片）。
每个包装5根探针。
应用范围：
高分辨扫描。
技术数据：
Technical Data
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Value
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Range
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Force Constant
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~0.2N/m
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-
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Resonance Frequency
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-
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-
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Length
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450µm
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±
20µm
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Width(rectangular part)
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-
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-
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Thickness
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-
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-
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Shape / Cross-section
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Rectangular
/ Trapezoidal
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Number of Cantilevers
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1
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Tip Offset
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0
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Tip Style
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Pyramidal
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Tip Height
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>
300 nm
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Tip Radius
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3
nm
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Full cone angle
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Material
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Solid
Carbon
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Chip Size
(industry standard)
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3.4
mm×1.55 mm×0.32 mm
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Coating (optional)
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Aluminum
reflex ( ~ 30 nm thick, non-tip side )
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