产品描述：
Team Nanotec SS-ISC AFM probes 是专为测量表面粗糙度而设计的轻敲模式高分辨AFM探针。为测试所有悬臂都有铝涂层，可以选择没有涂层，或者特殊涂层。
所有探针在发运前都要通过SEM进行质量检查。（可以要求SEM照片）。
每个包装5根探针。
应用范围：
该探针是专为测量表面粗糙度而设计的轻敲模式高分辨AFM探针。
技术数据：
Technical Data
|
Value
|
Range
|
Force Constant
|
40N/m
|
-
|
Resonance Frequency
|
300 kHz
|
-
|
Length
|
125µm
|
±
15µm
|
Width(rectangular part)
|
35 µm
|
±
3µm
|
Thickness
|
-
|
-
|
Shape / Cross-section
|
Rectangular
/ Trapezoidal
|
Number of Cantilevers
|
1
|
Tip Offset
|
0
|
Tip Style
|
Pyramidal
|
Tip Height
|
>
9µm
|
Tip Radius
|
<5
nm
|
Full cone angle
|
<
5° for < 150 nm
|
Material
|
|
Chip Size
(industry standard)
|
3.4
mm×1.55 mm×0.32 mm
|
Coating (optional)
|
Aluminum
reflex ( ~ 30 nm thick, non-tip side )
|
|
