产品描述：
NanoWorld Pointprobe SEIHR probes是专为精工仪器的使用者设计的非接触模式成像的探针。
Pointprobe系列的所有探针均是采用高掺杂的单晶硅，从而消除静电产生。化学惰性并且具有高的Q因子，从而获得高的灵敏度。针尖的形状是像金字塔的多边形，高度为10～15微米。
我们专门设计生产了具有超小的分辨率的用于测量纳米结构和纳米粗糙度的探针，这就是源于先进的切割工艺的SuperSharpSilicon tip，它具有无与伦比的分辨率。
SSS系列探针独特的性能：
1、针尖曲率半径为2nm ；
2、保证80%以上的针尖的曲率半径小于5nm；
3、在针尖尖端200nm之前半锥角小于10度；
应用范围：
该探针是专为测试纳米结构以及微小的粗糙度而提供的。
技术数据：
Technical Data
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Value
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Range
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Force Constant
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15N/m
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9
- 25
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Resonance Frequency
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130 kHz
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110
- 150
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Length
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225µm
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220
- 230
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Width(rectangular part)
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33 µm
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27.5
– 37.5
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Thickness
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5 µm
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4.5
- 5.5
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Shape / Cross-section
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Rectangular / Trapezoidal
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Number of Cantilevers
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1
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Tip Offset
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14
- 16 µm
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Tip Style
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Pyramidal
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Tip Height
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10-15
µm
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Tip Radius
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2nm,<5
nm
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Tip Aspect Ratio
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-
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Material
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Single
Crystal Silicon, Highly Doped
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Chip Size
(industry standard)
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Coating (optional)
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Without
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