产品描述：

      AFM探针使用中存在的问题
      当使用AFM扫描一个新的样品，可能很难知道是否获得了表面的准确信息。即使是样品有着特征结构以及形貌清晰。故此需要一个评估图像上针尖的影响的独立的方法。
      考虑如下：
      1、 一个破碎的或者畸形的针尖导致的不准备的测试结果，这样就必须花额外的时间来分辨获得图像的质量，更加糟糕的是，在针尖的损坏过程中，样品的真实的自然的形貌可能在无意中被忽视。
      2、 利用SEM等显微技术，来寻找针尖是否损坏，既不方便也不经济，不能用于常规的实验。

      一个简单方便而且可取的方法，就是预先筛选所有的AFM探针。这样，所有使用筛选过的探针的人都可以节省时间和精力，避免因破损探针造成的不必要的损失。
      幸运的是，我们提供一种简单有效的方法，可以预先筛选针尖，并且评估分级。

TipCheck的介绍：
      TipCheck利用反向成像提供了快速和简单的方法来评估针尖，而不需要扫描电镜等的使用。
      TipCheck帮助你在图谱上对针尖进行分类，可用与不可用的定性比较。
      TipCheck膜的微观结构是理想的检测针尖在尖端顶点附近的薄膜。
      这里显示的AFM图像，TipCheck的表面，左图是损坏的针尖，右图是好的针尖。
      TipCheck的薄膜是在一个硅片上的芯片，随时可以放置在AFM上使用。
      有详细的技术文档提供图像可与你获得的图像进行比较。
      本样品在清洁，干燥的地方保存，可以使用多年。

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