产品分类：AFM&STM用品 -> 校正用品 -> AFM针尖表征
 
NioProbe－Aurora的针尖表征样品
1、NioProbe薄膜的表面结构是一高密度的小高峰。这使得薄膜适合精密的AFM工作特点，非常小的压电运动。
2、特征峰的半径都小于5nm，小于市场上任何其他的同类产品。
3、该样品允许从小范围到中等范围（如生物分子）....TNP 30 Pt -- 用于SEM及STM的带铂金涂层的钨针尖
TipCheck－Aurora的针尖表征样品
TipCheck利用反向成像提供了快速和简单的方法来评估针尖，而不需要扫描电镜等的使用。 TipCheck帮助你在图谱上对针尖进行分类，可用与不可用的定性比较。 TipCheck膜的微观结构是理想的检测针尖在尖端顶点附近的薄膜 ... TipCheck－Aurora的针尖表征样品
TipCheck－BudgetSensors的针尖表征样品
TipCheck，是一种很方便又很快能查出来AFM针尖状况的SPM样品：只通过一条扫描线就能很清楚地看出来两个针尖的差别。 TipCheck 是按针尖形状和锐利度来比较并加以类别不同AFM针尖的一种快速又方便的方式。您可以很容易查出来针尖是否好，是否已磨损了，是否已经变钝的或断掉了而且您不需要扫描全部或进行SEM检查....TNP 30 Pt -- 用于SEM及STM的带铂金涂层的钨针尖
IFSR 100－Team NanoTec的针尖表征样品—锐利的悬垂边缘的线形的表征
● 探针针尖检测样品是用于检查针尖的形状和尺寸。
● 每个空室都有编号，有助于在相同的位置进行校准。
● Layout: 88 cells; on 1 x 1 mm area; on 6 x 6 mm silicon chip
● IFSR是一个具有锐利的悬垂边缘的线形样品... IFSR 100－Team NanoTec的针尖表征样品—锐利的悬垂边缘的线形的表征
ISNE 100－Team NanoTec的针尖表征样品—超小锐利的边缘以及陡坡的表征

● 探针针尖检测样品是用于检查针尖的形状和尺寸。
● 每个空室都有编号，有助于在相同的位置进行校准。
● Layout: 88 cells; on 1 x 1 mm area; on 6 x 6 mm silicon chip
● IFSR是一个具有超小锐利的边缘以及陡坡的样品。... NanoSensors CNT-FM碳纳米管探针
IVPS 100－Team NanoTec的针尖表征样品—针尖半径及角度的表征 IVPS 100－Team NanoTec的针尖表征样品—针尖半径及角度的表征

● 探针针尖检测样品是用于检查针尖的形状和尺寸。
● 每个空室都有编号，有助于在相同的位置进行校准。
● Layout: 88 cells ; on 1 x 1 mm area, on 6 x 6 mm silicon chip
● IVPS100是一个针尖半径和角度表征的样品...IVPS 100－Team NanoTec的针尖表征样品—针尖半径及角度的表征
IVPS－Team NanoTec的针尖表征样品—垂直线，平行侧壁 IVPS－Team NanoTec的针尖表征样品—垂直线，平行侧壁

● 探针针尖检测样品是用于检查针尖的形状和尺寸。
● 每个空室都有编号，有助于在相同的位置进行校准。
● Layout: 88 cells; on 1 x 1 mm area; on 6 x 6 mm silicon chip;
● IVPS是一个具有垂直线，平行侧壁的样品。... IVPS－Team NanoTec的针尖表征样品—垂直线，平行侧壁
 
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